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分析检测仪器
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共焦显微拉曼光谱仪:
主要特点:
1、灵敏度远高于其它同类拉曼谱仪,模块化设计,波长可任意选择,配置灵活,    升级容易。
2、所有传动部件均采用光栅尺闭环控制,仪器精度和重复性比其它同类光谱仪    提高了一个数量级。
3、可一次连续扫描大范围的拉曼光谱(专利),无需接谱,无需使用低分辨率    光栅。
4、受专利保护的最新的显微共焦系统,可连续调节共焦深度,并大大提高了仪    器的光通量和稳定性。
5、受专利保护的拉曼或荧光信号一次直接成像,迅速获得材料的空间分布。
 
原子力显微镜:
主要特点:
       Bruker Dimension® Icon™  原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的 AFM 应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的 AFM 大样品平台为基础,齐集  Dimension 系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
 
       Dimension®  Icon™优秀的图像分辨率,与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合,显著提升了测量速度与质量。Dimension®系列大样品台原子力显微镜始终处于行业领先地位,最新的 Dimension®  Icon™是针尖扫描技术的又一次革新,配置温度补偿位置传感器,实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平,将其应用在90 微米扫描范围的大样品台体系上,效果甚至优于高分辨小样品台 AFM 的开环噪音水平。全新设计的 XYZ 闭环扫描头,即使在较高的扫描速度工作时,也不会损坏图像质量,实现了更大的数据采集输出量。
 
 
拉曼-原子力显微镜联用系统:
       您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜(SPM和AFM)联用,在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

联用系统优势:
       原位测量。无需在不同仪器之间移动样品,节约时间,保证正确的分析区域。
inVia和SPM/AFM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力,以识别材料和非金属化合物。
可实现针尖增强拉曼测量(TERS),获得纳米尺度的化学信息。

选择最好的系统:
       雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有极大的灵活性,能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上:

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· Bruker Nano Surfaces    
· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par